精品九一,天天曰天天射,天天av综合

Products產品中心

首頁 > 產品中心 > 體積表面電阻率測試儀 > 四探針方阻儀

產品分類

Product Category

體積表面電阻率測試儀

四探針方阻儀 LST系列高絕緣電阻率測試儀體積表面電阻率測試儀體積電阻率測試儀表面電阻率試驗儀直讀體積表面電阻率測試儀尼龍體積表面電阻率測試儀絕緣材料體積表面電阻率測試儀橡膠塑料薄膜體積表面電阻率測試儀表面電阻率測試儀

查看全部

多功能方阻電阻率測試儀
多功能方阻電阻率測試儀采用范德堡測量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差，提供通訊接口，PC軟件數據處理及數據分析.中文或英文語言版本.

更新日期：2025-07-31型號：訪問量：3061

查看詳情
工業方阻電阻率測試儀
工業方阻電阻率測試儀采用范德堡測量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差，提供通訊接口，PC軟件數據處理及數據分析.中文或英文語言版本.

更新日期：2025-07-31型號：訪問量：2752

查看詳情
方阻電阻率測試儀
方阻電阻率測試儀采用范德堡測量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差，提供通訊接口，PC軟件數據處理及數據分析.中文或英文語言版本.

更新日期：2025-07-31型號：訪問量：3261

查看詳情
四探針方阻電阻率測試儀
四探針方阻電阻率測試儀采用范德堡測量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差，提供通訊接口，PC軟件數據處理及數據分析.中文或英文語言版本.硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）及國標設計制造；GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.

更新日期：2025-07-31型號：訪問量：2744

查看詳情
四探針方阻儀方阻電阻率測試儀
四探針方阻儀方阻電阻率測試儀采用范德堡測量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差，提供通訊接口，PC軟件數據處理及數據分析.中文或英文語言版本.

更新日期：2025-07-31型號：訪問量：3013

查看詳情

共 5 條記錄，當前 1 / 1 頁首頁上一頁下一頁末頁跳轉到第頁